バウンダリスキャンテストの伝送装置への適用
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概要
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近年のLSI、PWBの大規模化、高速度化の推移は急激であり、100KGateを超えるLSI、それらが複数搭載された多層PWBは珍しくなくなっている。この高集積化は、装置の設計から製造、テスト、出荷に至るさまざまな局面で、従来手法の見直しを迫っている。PWBの出荷テストの局面では、従来手法に代わるバウンダリスキャン(以下BS)方式が提案され実用化の動きを見せている。今回、伝送装置のPWB出荷テストに本方式を適用したので報告する。また、開発した3品種のBSLSIは、社内標準のBSファンクション適用、内製BS自動設計ツール使用によるものである。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-09-05
著者
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