大規模半導体メモリの故障情報格納アルゴリズム

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概要

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• Although fail-bitmaps for megabit RAMs are useful, many magabit RAMs are needed to store them in a burn-in tester. In this paper, we present an efficient algorithm to store fail-bitmaps. We also design a hardware to implement the algorithm using VHDL.

• 明治大学の論文

著者

• 青木 貴史

  Department Of Computer Science School Of Science And Technology Meiji University

• 横山 治男

  Technical Center Japan Engineering Co. Ltd.

• 伊勢野 総

  Department of Computer Science School of Science and Technology, Meiji University

• 井口 幸洋

  Department of Computer Science School of Science and Technology, Meiji University

• 井口 幸洋

  Department Of Computer Science School Of Science And Technology Meiji University

• 伊勢野 総

  明治大学理工学部

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