Study of Radiation Damage of CCD Sensors by Electron Beam Irradiation(I. Nuclear Physics)
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概要
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CCD pixel sensors are expected to have very high performance as a charged particle tracking device because of the excellent spatial resolution and the very thin material thickness of the sensitive layer. One disadvantage of CCD sensors is its relatively low radiation hardness. We have exposed CCD samples to 140 MeV electron beam of LNS and studied their radiation tolerance. Comparing with the results of ^<90>Sr irradiation test, the energy dependence of the radiation damage has been clearly seen.
- 東北大学の論文
著者
-
岩井 剛
高エ研
-
田村 詔生
新潟大自然
-
山崎 寛仁
Laboratory of Nuclear Science, Tohoku University
-
寺沢 辰生
Laboratory of Nuclear Science, Tohoku University
-
山崎 寛仁
Laboratory Of Nuclear Science Tohoku University
-
寺沢 辰生
Laboratory Of Nuclear Science Tohoku University
-
阿部 浩也
Department Of Physics Tohoku Gakuin University
-
阿蘇 司
Computer Engineering Department, Toyama National College of Maritime Technology
-
藤原 康平
Department of Physics, Niigata University
-
岩井 剛
Department of Physics, Niigata University
-
宮本 彰也
High Energy Accelerator Research Organization (KEK)
-
杉本 康博
High Energy Accelerator Research Organization (KEK)
-
高山 広也
Department of Physics, Niigata University
-
田村 詔生
Department of Physics, Niigata University
-
藤原 康平
Department Of Physics Niigata University
-
岩井 剛
高エネルギー加速器研究機構計算科学センター
-
高山 広也
Department Of Physics Niigata University
-
阿蘇 司
Computer Engineering Department Toyama National College Of Maritime Technology
-
杉本 康博
高研工
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