超音波減衰CTによる材料内部異常部の検出(OS9-4 超音波計測II,OS9 材料損傷・劣化過程の非破壊診断技術)
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概要
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- 一般社団法人日本機械学会の論文
- 2004-07-20
著者
-
川嶋 紘一郎
(有)超音波材料診断研究所
-
川嶋 紘一郎
名工大
-
川嶋 紘一郎
超音波材料診断研究所
-
伊藤 智啓
名工大工
-
伊藤 智啓
名古屋工業大学工学部
-
川嶋 紘一郎
超音波材料診断研
-
杉本 洋
名工大院
-
伊藤 智啓
名工大
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