535 非線形超音波を用いた接合界面及び内部損傷の非破壊評価(OS 非破壊評価とモニタリング(2))
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概要
- 論文の詳細を見る
- 2004-11-05
著者
-
川嶋 紘一郎
(有)超音波材料診断研究所
-
川嶋 紘一郎
名工大
-
藤田 文雄
ソニックス(株)
-
川嶋 紘一郎
超音波材料診断研究所
-
山田 龍三
大同特殊鋼(株)
-
川嶋 紘一郎
超音波材料診断研
-
松島 正道
宇宙航空研究開発機構
-
松嶋 正道
航空宇宙開発機構
-
植松 充良
三菱重工
-
藤田 文雄
ソニックス
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