PDP用青色蛍光体のプロセス劣化
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概要
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蛍光体の特性改善によるPDPの高輝度・高効率化のため、青色蛍光体(BaMgAl_<10>0_<17>:Eu)のプロセス劣化を評価したところ、最も輝度劣化の少なかった試料は83%の輝度維持率を示した。劣化率の違う試料の励起スペクトルから、254nm励起時の劣化と147nm励起時の劣化の仕方が異なっていることが分かった。劣化の仕方の異なる3つの試料について化学分析を行ったところ、蛍光体粒子のごく表面のEuの価数が二価から三価へと変化する事が劣化の原因で有ることが分かった。当初予想されたカーボンの汚染はどの試料からも観測されなかった。
- 一般社団法人映像情報メディア学会の論文
- 2000-01-27
著者
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