台形波パルス電圧印加による薄膜EL素子の特性評価 : 情報ディスプレイ

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概要

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• ZnS:Mn薄膜EL素子とSrS:Ce薄膜EL素子の電気的特性の評価として、Q-V特性とQ-Fp特性の測定を行なった。駆動電圧波形として、台形波パルスを用い、各々の測定結果について比較検討を行った。その結果、印加電圧波形のdv/dtを変化させるとQ-Vループのターンオン電圧がSrS:Ce薄膜EL素子では変化するのに対し、ZnS:Mn薄膜EL素子についてはあまり変化しないことを見い出した。また、輝度一移動電荷量特性は両方の素子ともdv/dtにほとんど依存しなかった。これらのことよりSrS:Ce薄膜EL素子の動作機構を考える場合、発光層中の空間電荷の発生を考慮する必要があることがわかった。

• 1994-01-20

著者

• 井上 智

  鳥取大学工学部電気電子工学科

• 田中 省作

  鳥取大学 工学部 電気電子工学科

• 大観 光徳

  鳥取大学 工学部 電気電子工学科

• 小林 洋志

  鳥取大学 工学部 電気電子工学科

• 喜種 佳司

  鳥取大

• 井上 智

  鳥取大学 工学部 電気電子工学科

• 喜種 佳司

  鳥取大学 工学部 電気電子工学科

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