光磁気ディスクにおける微小マークの高精度形成の検討
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概要
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光磁気ディスクの大容量化にはマーク・エッジ記録による高線密度化が効果的である。しかし光磁気記録媒体の記録層は熱伝導性が高く、記録密度上昇によってマークが微小化された場合、マーク形状の記録パターンに対する依存性が急激に増大する。このために目的とする長さのマークを安定に形成することは難しくなる。また高密度記録時にはマーク間隔がスポットの直径を下回るために再生時の符号間干渉も顕著となる。したがって再生信号はマーク形状の変動と符号間干渉の影響を同時に受ける。このためにマーク形状を決定する記録条件と符号間干渉を除去する等化条件とを完全に分離して検討することはできなかった。そこで我々は、符号間干渉が顕著となる条件下での微小マークの高精度形成と評価についての検討を行なった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-09-18
著者
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