デジタルICからの放射電磁雑音の評価の比較
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概要
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デジタル機器の高速化に伴い素子や基板レベルでのEMI評価を簡易かつ短時間で再現性良く行うことが今後ますます重要になってくる。本報告では、デジタルIC単体からの放射電磁雑音の測定を小型TEMセルを用いて行い、電波暗室でのアンテナ法との間に相関性を得ると共にICの設置状態によって放射電磁雑音量に違いがでることを明らかにした結果を述べる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-08-13
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