EMCJ2000-30 小型TEMセルを用いたデジタル機能素子のGHz帯での電磁雑音評価法の検討
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概要
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本報告では、小型TEMセルを用いてデジタル機能素子からのGHz帯での電磁雑音を評価する方法について述べる。この評価法は、評価対象素子(DUT)を4方向に回転させて出力電圧を測定し、磁界結合成分と電界結合成分とを算出する方法である。この評価法について、上限周波数を3GHzに拡張した小型TEMセルを用い、マイクロストリップラインによる検証を行った。その結果、この評価法が3GHzまで適用可能であることを明らかにした。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-07-14
著者
-
佐藤 利三郎
通信・放送機構仙台emcリサーチセンター
-
佐藤 利三郎
八戸工業大学工学部
-
篠原 愼一
ソニー株式会社
-
高橋 正広
株式会社環境電磁技術研究所
-
風間 智
株式会社環境電磁技術研究所
-
篠原 愼一
株式会社環境電磁技術研究所
-
佐藤 利三郎
株式会社環境電磁技術研究所
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