小型TEMセルを用いたデジタル機能素子の電磁雑音評価法の検討
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概要
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本報告では、小型TEMセルを用いてデジタル機能素子からの電磁雑音を評価する方法について述べる。この評価法は、評価対象素子(DUT)を4方向に回転させて出力電圧を測定し、磁界結合成分と電界結合成分とを算出する方法である。この評価法について、マイクロストリップラインを用いて, 長さ等の要因の影響を明らかにした。また、この評価法によって算出されたデジタル機能素子からの電磁雑音の磁界結合成分は、磁界プローブの近傍界での測定値と良い相関を示していた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-04-18
著者
-
藤田 正和
株式会社環境電磁技術研究所
-
佐藤 利三郎
通信・放送機構仙台emcリサーチセンター
-
佐藤 利三郎
八戸工業大学工学部
-
篠原 愼一
ソニー株式会社
-
高橋 正広
株式会社環境電磁技術研究所
-
風間 智
株式会社環境電磁技術研究所
-
篠原 愼一
株式会社環境電磁技術研究所
-
佐藤 利三郎
株式会社環境電磁技術研究所
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