デジタルICからの放射電磁雑音の妨害源の検討
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概要
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最近の電子機器の高速化、高密度化に伴い、機器内のICが雑音源として性能に影響を与える度合いが増している。本報告では、ICからの放射雑音を近傍で測定することにより、どの部分からより多くの放射雑音が生じているかを検討した結果を述べる。
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-08-13
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