低コヒーレンスリフレクトメータを用いた半導体導波路損失の測定

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概要

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• 近年、低コヒーレント光を用いた反射光測定器の研究が進み、高分解能で光導波回路の導波路損失を測定する試みが進められている。今回、比較的簡単に、半導体導波路損失を測定する方法を開発し良好な結果が得られたので報告する。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1994-09-26

著者

• 石井 啓之

  NTTフォトニクス研究所

• 笠谷 和生

  日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所

• 笠谷 和生

  NTTフォトニクス研究所

• 吉国 裕三

  Nttフォトニクス研究所

• 吉国 裕三

  Ntt光エレクトロニクス研究所

• 高田 和正

  NTT光エレクトロニクス研究所

• 笠谷 和生

  NTT光エレクトロニクス研究所

• 石井 啓之

  NTT光エレクトロニクス研究所

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