250MHz超える高速DRAMのAt-Speed test評価技術

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概要

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• 18M Base版Rambus DRAMをモチーフに、高速DRAM評価の手法及び注意点などを報告する。その技術を応用し、waferでの高速評価の実験を行った。その結果、waferにて250MHz以上の動作周波数の確認できたことも報告する。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1998-12-11

著者

• 野路 宏行

  (株)東芝マイクロエレクトロニクス

• 串山 夏樹

  (株)東芝メモリー事業部

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