並列Generalized-LFSRを用いた自己組込みテスト
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概要
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本論文では,自己組込みテスト(Built-In Self-Test:BIST)のテスト発生回路(Test PatternGenerator:TPG)に並列汎用線形フイードバックシフトレジスタ(Parallel Generalized Linear Feedback Shift Register:並列GLFSR)を提案する.従来のTPGであるLFSR,GLFSRと並列GLFSRをIS-CAS'85ベンチマーク回路に適用した場合のテスト数をそれぞれ比較する.提案したTPGが故障検出率95%を超える場合のテスト数がより少ないという結果から,BISTのTPGとして有効であると考察する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-09-01
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