相変化光ディスクからの光散乱と検出信号特性の3次元FDTD法解析
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概要
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光ディスクモデルからの光散乱の理論的解析には、これまで主に境界要素法を用いて、ROM(再生専用)タイプについて行われてきた。しかし、RAM(書き換え可能)タイプの光ディスクの解析を行なうためには、局所的な誘電率や導電率の変化含む多層構造を考える必要がありこのことが優れた数値解析法である境界要素法の適用を困難にしている。そこで本稿では、3次元FDTD法を用いてRAMタイプ光ディスクの一つである相変化光ディスクモデルの解析を試み、光散乱と検出信号特性のシミュレーション結果を示す。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-01-20
著者
-
何 一偉
大阪電気通信大学
-
何 一偉
大阪電気通信大学工学部
-
小嶋 敏孝
関西大学工学部電子工学科
-
深井 慎一郎
関西大学
-
深井 慎一郎
関西大学工学部電子工学科
-
何 一偉
大阪電気通信大学情報通信工学部
-
小嶋 敏孝
関西大学工学部
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