銅フタロシアニン超薄膜の構造と電子物性のその場観測(II)
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概要
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銅フタロシアニン(CuPc)薄膜の導電率の膜厚依存性を調べるため、真空蒸着を行いながら「その場」観測を行った。その結果、CuPc薄膜の導電率は、5nm以下というごく初期の段階において異常に高い値を示すことが観測された。これはこの膜厚領域において、分子の凝集構造、運動性そして電気伝導機構がきわめて特異的であることを示唆している。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-06-21
著者
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松重 和美
京都大学工学研究科国際融合創造センターベンチャービジネスラボラトリー
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堀内 俊寿
京都大学工学部電子物性工学科
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川戸 伸一
京都大学工学研究科電子物性工学教室
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林 好一
京都大学工学研究科電子物性工学教室
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