リードスイッチの放電現象についての一考察
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概要
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リ-ドスイッチの高耐電圧化を計るため、放電現象における種々の因子による影響の調査を、実験や複合解析等より行った。その結果放電プロセスがほぼ解明され、さらにそのプロセスにおいて印加電圧を高めること並びに放電時間の延長が、イオンの動きを激しくさせることを確認した。また接点における表面安定化処理、ガラス管内の真空化により、放電開始電圧が高まることが判明した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-03-29
著者
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小林 達郎
沖センサデバイス
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小林 達郎
株式会社沖センサデバイス技術部開発設計課
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中村 清隆
沖電気工業電子部品事業本部
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小林 達郎
沖電気工業電子部品事業本部
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吉田 諭紀
株式会社沖センサデバイス技術部開発設計課
-
吉田 諭紀
沖電気工業電子部品事業本部
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