広視野角横電界方式TFT-LCDにおける異常ドメインの解析と制御
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概要
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横電界方式TFT-LCDにおいて、櫛歯電極の端部に生じる異常ドメインは、高電圧を印加した際に画素中央部に向かって成長し、画質ならびに素子信頼性を低下させることが明らかになった。この異常ドメインについて物理的解析を行い、対策として新規電極形状を提案し、その効果を実験により確認した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-06-13
著者
-
金子 節夫
日本電気株式会社機能エレクトロニクス研究所
-
金子 節夫
Nec機能エレクトロニクス研究所
-
西田 真一
Necカラー液晶事業部
-
鈴木 照晃
NEC機能エレクトロニクス研究所
-
鈴木 成嘉
NEC機能エレクトロニクス研究所
-
鈴木 照晃
Nec 機能デ研
-
鈴木 成嘉
NEC カラー液晶(事)
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