マイクロストリップライン構造デバイス用プローブによる高周波抵抗器の測定
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-03-07
著者
-
井上 博文
NEC生産技術研究所
-
早川 聡
アンリツ(株)計測器事業部
-
松永 幸治
日本電気(株)実装技術開発本部
-
井上 博文
日本電気(株)実装技術開発本部
-
田浦 徹
日本電気(株)実装技術開発本部
-
小畑 克史
多摩電気工業(株)電子部品事業部
-
反町 彰宏
多摩電気工業(株)電子部品事業部
-
田浦 徹
日本電気株式会社システム実装研究所
-
井上 博文
日本電気(株)
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