非直交座標系による有限差分ビーム伝搬法のベンチマークテスト
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概要
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傾斜直線導波路を階段近似することなくモデル化できるように、非直交斜交座標系に基づいた有限差分ビーム伝搬法の具体的な差分スキームを与える。また本手法の有効性および計算精度を評価するためにベンチマークテスト問題として均質媒質中の斜めガウシアンビームの伝搬とステップインデックス形傾斜直線導波路の高次TEモードの伝搬モデルを数値解析した。その結果、本手法はこれまで提案されている従来手法と比較して傾斜角度45度以上にわたって比較的粗い刻み幅でも正確に数値解析できることから、より広範な導波路形光波回路素子のシミュレーションが可能となり、設計の自由度が増すと考えられる。なお、本報告はこれまでの全国大会、Conference等で発表した内容を整理し、データをまとめたものである。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-08-27
著者
-
穴田 哲夫
神奈川大
-
穴田 哲夫
神奈川大学
-
平岡 隆晴
神奈川大学 工学研究科
-
Kendall P.
シェフィールド大学
-
外園 俊之
神奈川大学工学部電気工学科
-
Kendal Peter
シェフィールド大学
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