YBCO薄膜のマイクロ波表面抵抗と電磁誘導法による臨界電流密度特性
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概要
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超電導臨界電流密度は超電導テープなどの大電力応用にとって重要なパラメータである。しかし超電導臨界電流密度は物質固有の物理定数ではなく、ピニング力とその密度、および磁場侵入長に依存した値、すなわち、製造工程にも大きく依存したパラメータ値である。本報告では、ピニング密度と磁場侵入長に着目し、超電導薄膜の膜厚依存性という実験的手法に基づき超電導臨界電流密度について考察した。ピニング密度はMgO基板上のYBCO薄膜を用いることにより予測できた。磁場侵入長は22GHzマイクロ波表面抵抗測定により予測した。結論として、YBCO薄膜が薄いほどピニング密度が増大し、膜厚の薄い方が1桁ほど大きな電流密度を示した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-10-06
著者
-
田巻 明
東京電機大工
-
山下 大介
超電導工学研究所
-
榎本 陽一
超電導工学研究所
-
鈴木 克己
超電導工学研究所・田町分室
-
鈴木 克己
超電導工学研究所
-
中垣 伸廣
超電導工学研究所
-
今野 高治
超電導工学研究所
-
鈴木 武雄
超電導工学研究所
-
田巻 明
東京電機大学
-
鈴木 克巳
超電導工学研究所
-
鈴木 克巳
(株)日立メディコ技術研究所
-
田巻 明
東京電機大
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