長手記録のオーバーライト特性解析
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概要
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オーバーライト(OW)特性を,媒体の未飽和による消し残りと,記録時の磁化反転位置のシフトによる変調が,オーバーライトのノイズになるというモデルに基づいて計算し,実測結果と比較検討した。ここで,リーディング側の反転から発生する反磁界を,ヘッドのギャップ長,及び記録時の磁気飽和を考慮して求めることにより,OW特性の計算値と実測値とはほぼ一致した。また,OW特性を良好にするには,高い記録磁界だけでなく急峻な磁界勾配が必要であり,ヘッド先端が磁気飽和するとOW特性は低下すること,磁気飽和しにくい高Bs積層ヘッドは,パーマロイヘッドに比べて良好なOW特性を示すことがわかった。
- 1993-09-17
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