転換電子-,X線-メスバウアースペクトル同時測定による耐候性鋼の安定さび層の状態分析(<特集>無機材料分析のためのスペクトロメトリー)
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概要
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低温にした試料から放出される転換電子及び散乱X線を検出し,転換電子及びX線メスバウアースペクトルを同時に測定できるガスフロー型比例計数管を試作した.この転換電子-,X線-メスバウアースペクトロメトリー(CEMS及びXMSと略記)用検出器は,真空排気系を必要としない簡単な構造で,検出効率が高く,低温試料の測定時間が短縮できるので,実用材料のCEM及びXMスペクトルが容易に測定できる.この検出器を用いて,13年以上大気に暴露した耐候性鋼の表面に形成した安定さび層の散乱メスバウアースペクトルを測定した.室温のCEM及びXMスペクトルには,常磁性の鉄(III)化合物による二重線しか見られず,化合物の同定が困難であったが,200K以下に冷却した試料では,磁気分裂ピークが出現し,その強度や内部磁場の強さから安定さび層の構造と存在状態がより明確に推定できた.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 1986-08-05
著者
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