MR素子における出力安定性のMR/縦バイアス接合形状依存性に関する検討 (<特集>磁気ヘッド・磁気記録再生特性)
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概要
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Hysteresis and baseline shift are studied in soft-adjacent-layer-biased MR sensors with abutted quasi-permanent magnetic bias. The magnet consists of NiFe/NiMn exchange-boupling films, which apply longitudinal bias field to an MR sensor. Abutted bias-magnet structures with various taper angles were fabricated, and the overlap lengths were measured as the length of the MR flat active region covered by the longitudinal bias films. The hysteresis measured from the transfer curve decreases with decreasing overlap length. The repeatable baseline shift in the readback signal was also improved by decreasing the overlap length in the MR sensor.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 1997-04-15
著者
-
大橋 啓之
日本電気(株)
-
嶋林 清孝
NEC
-
浦井 治雄
NEC
-
苅屋田 英嗣
日本電気(株)ファイル装置事業部
-
倉科 晴次
日本電気(株)ファイル装置事業部
-
池澤 延幸
日本電気(株)ファイル装置事業部
-
森田 昇
日本電気(株)ファイル装置事業部
-
小田 淳
日本電気(株)ファイル装置事業部
-
嶋林 清孝
日本電気(株)ファイル装置事業部
-
土岐 薫
日本電気(株)ファイル装置事業部
-
浦井 治雄
日本電気(株)ファイル装置事業部
-
大橋 啓之
日本電気(株)ファイル装置事業部
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