微細磁性体の磁区観察による磁化反転機構の検討(薄膜)
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概要
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Micron-scale rectangular and round-edged Ni_<80>Fe_<20> ferromagnetic dots were studied by Kerr microscopy. Samples of ferromagnetic dots were prepared by means of electron-beam lithography and RF sputtering. The magnetization reversal process in rectangular dots with a large aspect ratio included rapid magnetization switching, which is convenient for memory and sensor applications. Moreover, the residual magnetization of round-edged dots was larger than that of rectangular dots, because the nucleation of reversal domains around the edges of dots can be eliminated by the shape effect. It is concluded that the most preferable magnetization reversal process for memory applications was obtained by using round-edged dots.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 2004-03-01
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