温度サイクル負荷時におけるLSIパッケージの異種材料界面はく離の発生傾向に関する解析
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概要
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A study is made for interfacial delaminations between dissimilar materials in LSI plastic packages caused by temperature cyclic loading. Combining a thermoelastic finite element method for nonlinear contact problems and linear fracture mechanics approach, stress intensity factors at the tips of growing delaminations are obtained for the packages with Cu alloy or 42 alloy (Fe-42%Ni) leadframe. The tendency of delamination growth are compared for the two configurations of delamination ; one along the interfaces between the top surface of the die pad and die-bonding layer and the other along those between the bottom surface of the die-pad and encapsulant resin. It is concluded that the former case is more likely to occur for the package with Cu alloy leadframe while for packages with 42 alloy leadframe, the latter case is more likely to occur.
- 社団法人日本機械学会の論文
- 1998-03-25
著者
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戸谷 眞之
鹿児島大学工学部
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松山 英人
NEC情報システムズ
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松山 英人
(株)NEC情報システムズ
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齋藤 武博
日本電気株式会社NECエレクトロンデバイス先端デバイス開発本部
-
齋藤 武博
日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所
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戸谷 眞之
鹿児島大学大学院理工学研究科
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