STM技術による微小硬さ測定
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概要
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A scanning tunneling microscope (STM) can provide atomic-scale images in various environments, such as a vacuum, air and aqueous solution. In addition, STM can offer a new approach to surface fabrication on a nanometer scale. In this study, we describe hardness measurement on a nanometer scale, using STM technology. Pyramidal indentations with side length less than 100 nm were created by the contact of the conductive diamond tips with the surfaces of gold and cementite-spheroidized S25C steel. The 16×16 indentations with 300 nm pitch were arranged on the surface of cementite-spheroidized S25C steel. The indentations were much larger in the ferrite portion than in the cementite portion.
- 一般社団法人日本機械学会の論文
- 1993-08-25
著者
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松岡 三郎
金属材料技術研究所
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升田 博之
金属材料技術研究所 構造体化ステーション
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升田 博之
金属材料技術研究所
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升田 博之
物質・材料研究機構材料研究所
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升田 博之
質・材料研究機構
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宮原 健介
金属材料技術研究所
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長島 伸夫
金属材料技術研究所
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