332 セラミックス/金属半導体基板の残留応力と強度信頼性
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概要
著者
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岡部 永年
愛媛大学大学院理工学研究科
-
阿部 豊
(株)東芝
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阿部 豊
愛媛大学大学院理工学研究科
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岡部 永年
愛媛大学
-
田邉 康宏
愛媛大学院
-
田中 拓哉
愛媛大学院
-
梶原 虎之介
愛媛大学院
-
岡部 永年
愛媛大
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