30a-E-5 PFにおける4軸回析計の性能

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人日本物理学会の論文
• 1982-09-14

著者

• 細谷 資明

  東大物性研

• 田賀井 篤平

  東大理

• 佐藤 能雅

  高エネ研・放射光

• 坂牧 俊夫

  物性研

• 細谷 資明

  物性研

• 佐藤 能雅

  高工研

関連論文

• EXAFS測定によるNa_2O・4GeO_2ガラスの構造の研究
• 1p-TG-12 コンプトン散乱によるAlNの電子状態の研究
• 多重陽極チャンネルプレ-トを用いた表面構造解析装置の開発 (物質のミクロの構造の動的解析) -- (特殊装置)
• 5p-E-4 コンプトン散乱によるCaF_2の研究
• 30a-E-5 PFにおける4軸回析計の性能
• 14p-P-5 金属Nbのコンプトン散乱
• 2p-W-11 アモルファスIV-VI族半導体の構造
• 10p-J-13 SSD回折計を用いたGaAsのEXAFS
• 27p-L-1 フォトンファクトリーEXAFS測定装置
• 高橋秀俊先生の業績と横顔
• 2p-NR-9 32素子MCDDSの性能
• 2p-NR-8 32素子MCSSDの開発
• 2p-G-12 AgKα_2だけを用いたコンプトン散乱
• 12a-H-7 ニッケルの原子散乱因子の絶対測定
• 11p-T-7 Cr 反強磁性磁区のX線テレビによる観察 II
• 9p-D-4 X線テレビによるCr反強磁性体磁区の観察
• 3p-M-1 白色X線回折実践の現状と将来
• 12p-T-7 X線磁気反射用試料の単磁区化と磁区のその場観察
• 29a-L-4 低エネルギーγ線の内殻電子による非弾性散乱
• 物質のミクロ構造の動的解析
• 1p-M-2 蛍光X線EXAFSスペクトルについて
• 2p-NR-11 32素子MCSSDによるWL吸収端のf′f"の測定
• 4a-NL-3 アモルファスSi_Ge_x:HのEXAFS
• 2p-N-8 多素子SSDシステムとその特性
• 30p-N-8 W化合物の吸収端近傍のf'とf"
• 1p-U-3 SSDを用いたNパターン測定系
• 1p-U-2 一次元SSD(PSSD)の開発(III)
• 30a-P-5 白色X線を用いた構造解析
• 固体物理の教科書について
• 14p-S-7 円偏光ガンマ線による金属鉄のコンプトン散乱
• SSDを用いた白色X線用4軸回折計(実験室)
• 3p-AD-1 異常散乱による位相決定の試み
• 10a-Z-8 白色X線用4軸回折計による異常散乱差パタソン
• 7p-H-7 異極鉱の極性決定
• best planeの計画 : X線電子線
• 結晶成長"その場観察"のためのX線トポグラフィ用チャネルプレート : 結晶成長一般
• 11p-K-6 SSD 2軸型回折計によるX線吸収スペクトルの測定法
• 24p-T-9 Al単結晶のコンプトンプロフィル
• 3p-AD-8 X線の磁気散乱
• 29p-P-13 一次元SSDの開発 (II), データ集録系
• 2a-M-7 吸収端近傍における Ni, Yb の異常散乱因子の測定
• 国際結晶学会議 (アムステルダム)
• 2a-M-5 異常散乱を用いた GaAs の 200, 222 反射の観察
• 2a-M-4 K 吸収端近傍における非晶体 GeSe の異常散乱因子の測定
• 4a-AD-7 GaAsのEXAFS解析
• 6a-B-4 クロム反強磁性磁区の観察 V
• 6a-L-8 中性子トポグラフによるCr反強磁性磁区の観察
• 5a-E-1 X線2結晶法によるCrの観察
• 2p-TG-3 AgKα_2だけを用いたトポグラフ II
• AgKα_2だけを用いたトポグラフ : X線粒子線
• 29p-P-5 結晶および非晶質GeX(X=S, Se)のEXAFS
• 2a-M-8 低温における EXAFS 測定
• 31p GK-6 非晶質GeNi系のEXAFS
• 4a-AD-8 SSDを用いたEXAFS測定 II
• 2a-BF-5 SSDを用いたEXAFSの測定
• EXAFSと非晶質構造 (非晶質)
• アモルファス半導体の構造 (アモルファス物質)
• 31p GK-3 温度因子と吸収端近傍における積分反射強度
• 4a-AD-6 全反射法によるCu K吸収端近傍における異常散乱因子の測定
• 2a-BF-4 EXAFSのフーリエ変換における諸問題
• EXAFS測定による局所構造解析
• 10p-Z-10 異常散乱
• 10p-J-11 GaAsのK吸収端近傍での異常散乱因子の測定
• 4a-KE-9 極性をもつ完全結晶のフリーデル対反射の強度比(LaueCase)
• 4a-KE-8 Asの吸収端近辺でのGaAs666反射強度測定
• 4a-KE-2 X線の異常分散曲線の測定
• 4a-KE-1 SSD単結晶回折計による強度測定
• 3p-KE-3 X線の異常散乱を用いたBaTiO_3の精密構造の研究
• 22p-N-8 完全結晶における極性結晶の極性による強度について
• VNのX線原子散乱因子の測定 : X線粒子線
• 1p-TG-11 コンプトン散乱によるNaFの電子状態の研究
• Si, AlのCompton散乱 : X線粒子線
• 7p-V-10 Li,Be,Al,Fe,Ni,Cu,Pbなどのコンプトンプロフィルの測定
• 5a-P-5 TiOのコンプトン散乱
• 5a-P-4 コンプトン散乱測定によるV-O系化合物の電子状態
• 7p-P-9 吸収端近傍における回折強度の温度効果I
• Crの原子散乱因子の測定 : X線・粒子線
• 7p-D-8 コンプトン散乱によるTiO_2の研究
• α1フィルターとその利用法
• X線の新しい検出器 : ―国際結晶学連合装置委員会主催の会合より―
• 米国における最近の見聞
• 3p-E-13 NiO単結晶がコンプトン・プロフィルとその異方性
• 6a-KC-9 固体および液体ガリウムのコンプトン散乱
• 3a-KC-5 超伝導体における同位元素の体積効果〔II〕He温汲でのMo同位元素の格子定数の精密測定
• 23a-T-9 超伝導体における同位元素の体積効果 : (I)He温度でのモリブデン同位元素の格子定数の精密測定
• 10p-T-5 バナジウム単結晶のコンプトンプロフィルの異方性
• 10p-T-4 半導体検出器による回折パターンの測定
• V EXAFSと非晶質構造
• 7p-V-9 Feのコンプトン散乱の異方性
• 24p-T-11 Feのコンプトン・プロファイルの異方性
• X線回折法による固体内電子状態の研究
• 4p-B-5 波長1Å前後のSORの利用 : 2.非弾性散乱を主として
• MnOとMn_4Nの原子散乱因子の測定 : X線・粒子線
• 7p-K-1 MnOに於けるX線原子散乱因子の絶対測定
• 13a-P-12 MnOに於ける原子散乱因子
• Ni単結晶薄膜の強磁性共鳴吸収II : 磁性(強磁性共鳴)
• Ni単結晶薄膜の強磁性共鳴吸収 : 磁性
• 12a-L-9 銅とニッケルのX線K吸収端近傍での吸収スペクトルの測定
• 7p-D-7 コンプトン散乱によるMgOの研究
• 7p-D-6 AgKα_2を用いたBeのコンプトン散乱 II

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク