3p-AD-8 X線の磁気散乱

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人日本物理学会の論文
• 1978-09-11

著者

• 並河 一道

  東大物性研

• 細谷 資明

  東大物性研

• 坂牧 俊夫

  物性研

• 坂牧 俊夫

  東大物性研

関連論文

• EXAFS測定によるNa_2O・4GeO_2ガラスの構造の研究
• 1p-TG-12 コンプトン散乱によるAlNの電子状態の研究
• 多重陽極チャンネルプレ-トを用いた表面構造解析装置の開発 (物質のミクロの構造の動的解析) -- (特殊装置)
• 5p-E-4 コンプトン散乱によるCaF_2の研究
• 30a-E-5 PFにおける4軸回析計の性能
• 14p-P-5 金属Nbのコンプトン散乱
• 2p-W-11 アモルファスIV-VI族半導体の構造
• 10p-J-13 SSD回折計を用いたGaAsのEXAFS
• 27p-L-1 フォトンファクトリーEXAFS測定装置
• 高橋秀俊先生の業績と横顔
• 2p-NR-9 32素子MCDDSの性能
• 2p-NR-8 32素子MCSSDの開発
• 2p-G-12 AgKα_2だけを用いたコンプトン散乱
• 12a-H-7 ニッケルの原子散乱因子の絶対測定
• 11p-T-7 Cr 反強磁性磁区のX線テレビによる観察 II
• 9p-D-4 X線テレビによるCr反強磁性体磁区の観察
• 3p-M-1 白色X線回折実践の現状と将来
• 12p-T-7 X線磁気反射用試料の単磁区化と磁区のその場観察
• 29a-L-4 低エネルギーγ線の内殻電子による非弾性散乱
• 物質のミクロ構造の動的解析
• 1p-M-2 蛍光X線EXAFSスペクトルについて
• 2p-NR-11 32素子MCSSDによるWL吸収端のf′f"の測定
• 4a-NL-3 アモルファスSi_Ge_x:HのEXAFS
• 2p-N-8 多素子SSDシステムとその特性
• 30p-N-8 W化合物の吸収端近傍のf'とf"
• 1p-U-3 SSDを用いたNパターン測定系
• 1p-U-2 一次元SSD(PSSD)の開発(III)
• 30a-P-5 白色X線を用いた構造解析
• 固体物理の教科書について
• 14p-S-7 円偏光ガンマ線による金属鉄のコンプトン散乱
• SSDを用いた白色X線用4軸回折計(実験室)
• 3p-AD-1 異常散乱による位相決定の試み
• 10a-Z-8 白色X線用4軸回折計による異常散乱差パタソン
• 7p-H-7 異極鉱の極性決定
• best planeの計画 : X線電子線
• 結晶成長"その場観察"のためのX線トポグラフィ用チャネルプレート : 結晶成長一般
• 11p-K-6 SSD 2軸型回折計によるX線吸収スペクトルの測定法
• 24p-T-9 Al単結晶のコンプトンプロフィル
• X線共鳴磁気散乱によるスピン分解型X線分光法
• 30p-O-11 マグネタイトの半整数次ブラッグ反射の磁場依存性(V)
• 29a-PS-30 ガドリニゥムK殻によるX線共鳴磁気散乱
• 3p-Q-7 マグネタイトの半整数次ブラック反射の磁場依存性(IV)
• 1a-N-9 X線共鳴磁気散乱の観察
• Sm_4Bi_3の低温での圧力誘起原子価転移(I. Sm,Yb化合物系,価数揺動状態の総合的研究,科研費研究会報告)
• 4a-KC-5 マグネタイトの半整数次ブラッグ反射の磁場依存性[I]
• 3p-PS-32 Sm_4Bi_3の圧力誘起原子価転移のX線回折による研究[I]
• 3p-AD-8 X線の磁気散乱
• 6p-L-3 CoO(001)面による低速電子線回折
• 電子線交換散乱による表面磁性の研究
• 12a-J-9 反強磁性NiOによる低速電子交換力回折強度の温度依存性
• 3a-A-9 反強磁性NiOによる交換力回折
• 4) M. B. Webb and M. G. Lagally : Elastic Scattering of Low-Energy Electrons from Surfaces, p. 301〜405.
• 3a-B-5 反強磁性NiO単結晶劈開面からの交換散乱回折
• 30p-W-6 低エネルギー電子の交換散乱・回折と NiO の磁区構造
• 6p-D-2 反強磁性体NiO結晶のLEEDによる研究
• 3a-TG-3 NiO単結晶による低エネルギー電子線の磁性回折
• X線の磁気散乱--放射光X線の磁気散乱による磁性の研究
• 29p-P-13 一次元SSDの開発 (II), データ集録系
• 2a-M-7 吸収端近傍における Ni, Yb の異常散乱因子の測定
• 国際結晶学会議 (アムステルダム)
• 2a-M-5 異常散乱を用いた GaAs の 200, 222 反射の観察
• 2a-M-4 K 吸収端近傍における非晶体 GeSe の異常散乱因子の測定
• 4a-AD-7 GaAsのEXAFS解析
• 6a-B-4 クロム反強磁性磁区の観察 V
• 6a-L-8 中性子トポグラフによるCr反強磁性磁区の観察
• 5a-E-1 X線2結晶法によるCrの観察
• 2p-TG-3 AgKα_2だけを用いたトポグラフ II
• AgKα_2だけを用いたトポグラフ : X線粒子線
• 29p-P-5 結晶および非晶質GeX(X=S, Se)のEXAFS
• 2a-M-8 低温における EXAFS 測定
• 31p GK-6 非晶質GeNi系のEXAFS
• 4a-AD-8 SSDを用いたEXAFS測定 II
• 2a-BF-5 SSDを用いたEXAFSの測定
• EXAFSと非晶質構造 (非晶質)
• アモルファス半導体の構造 (アモルファス物質)
• 31p GK-3 温度因子と吸収端近傍における積分反射強度
• 4a-AD-6 全反射法によるCu K吸収端近傍における異常散乱因子の測定
• 2a-BF-4 EXAFSのフーリエ変換における諸問題
• EXAFS測定による局所構造解析
• 10p-Z-10 異常散乱
• 10p-J-11 GaAsのK吸収端近傍での異常散乱因子の測定
• 4a-KE-9 極性をもつ完全結晶のフリーデル対反射の強度比(LaueCase)
• 4a-KE-8 Asの吸収端近辺でのGaAs666反射強度測定
• 4a-KE-2 X線の異常分散曲線の測定
• 4a-KE-1 SSD単結晶回折計による強度測定
• 3p-KE-3 X線の異常散乱を用いたBaTiO_3の精密構造の研究
• 22p-N-8 完全結晶における極性結晶の極性による強度について
• VNのX線原子散乱因子の測定 : X線粒子線
• 1p-TG-11 コンプトン散乱によるNaFの電子状態の研究
• Si, AlのCompton散乱 : X線粒子線
• 7p-V-10 Li,Be,Al,Fe,Ni,Cu,Pbなどのコンプトンプロフィルの測定
• 5a-P-5 TiOのコンプトン散乱
• 5a-P-4 コンプトン散乱測定によるV-O系化合物の電子状態
• 7p-P-9 吸収端近傍における回折強度の温度効果I
• Crの原子散乱因子の測定 : X線・粒子線
• 新しい相互作用を見る――X線磁気散乱振幅
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• 2p-PS-20 Sm_4Bi_3の圧力誘起原子価転移のX線回折による研究(II)(2p PS 磁性(近藤格子等))

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク