30p-N-8 W化合物の吸収端近傍のf'とf"
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
26aYA-11 単原子完全結晶におけるX線純虚数分極率の効果の検出
-
7a-X-6 GaK吸収端近傍におけるGaSb200反射のロッキングカーブ
-
27pXM-8 内殻励起共鳴X線弾性及び非弾性散乱の理論(X線・粒子線(X線))(領域10)
-
31aXD-1 固体からの多体 X 線散乱理論
-
11a-T-2 MCSSDにおける高速データ収録システムの開発
-
27a-L-1 MCSSD用回折計の試作
-
28aRE-2 動力学回折に伴う位相観測(28aRE X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
-
24pYS-10 X線の閉じ込め効果と濃縮化(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
-
13aTJ-1 X 線閉じ込め効果による側面放出ビームの高密度化(X 線・粒子線 : X 線, 領域 10)
-
31p-B-11 透過波のロッキングカーブによる異常散乱因子の決定
-
29a-YM-12 偏光によるペンデルビートII
-
31p-ZB-10 X線共鳴散乱ペンデル縞によるGe K 吸収端における異常分散の研究
-
31p-ZB-9 X線複素分極率の虚数部だけによるX線トポグラフィーのコントラスト
-
26a-S-12 ボルマン吸収をもつラウエケースの動力学回折
-
26a-S-11 吸収のある完全結晶からの回折 : Bragg Case の薄い結晶 II
-
26a-S-5 X線共鳴散乱ペンデル縞法によるGaAsの異常分散 II
-
29p-ZB-8 吸収のある完全結晶からの回折 : Bragg Case の薄い結晶
-
29p-ZB-7 X線共鳴散乱ペンデル縞法によるGaAsのGa K吸収端近傍の異常分散
-
28a-L-7 吸収のある完全結晶からの回折理論の一般化
-
10p-J-13 SSD回折計を用いたGaAsのEXAFS
-
1a-M-4 MCSSD用プロセスメモリーの開発
-
2p-NR-9 32素子MCDDSの性能
-
2p-NR-8 32素子MCSSDの開発
-
2p-NR-11 32素子MCSSDによるWL吸収端のf′f"の測定
-
2p-N-8 多素子SSDシステムとその特性
-
30p-N-8 W化合物の吸収端近傍のf'とf"
-
1p-U-3 SSDを用いたNパターン測定系
-
1p-U-2 一次元SSD(PSSD)の開発(III)
-
29p-P-14 グラフィックディスプレイ付マイコンによるX線計測装置の開発
-
1a-M-3 マイコンを用いたSSD付4軸回折計の開発
-
3p-AD-1 異常散乱による位相決定の試み
-
7p-H-7 異極鉱の極性決定
-
31aXD-8 共鳴散乱動力学回折における異常な干渉縞 II
-
2p-NR-10 32素子MCSSDによる吸収端近傍における異常散乱の測定
-
2p-N-7 MCPDを用いたX線共鳴散乱効果の検出
-
30p-N-9 多素子SSDによる吸収端の温度効果による回折強度変化の検出
-
3a-M-6 X線全反射の考察
-
3a-M-5 一次元 SSD の開発
-
2a-M-7 吸収端近傍における Ni, Yb の異常散乱因子の測定
-
2a-M-6 異常散乱因子の微細構造
-
31p GK-10 全反射法によるGeK吸収端近傍における異常散乱因子の測定
-
31p GK-4 X線全反射における臨界角近傍の蛍光X線強度
-
2a-M-5 異常散乱を用いた GaAs の 200, 222 反射の観察
-
2a-M-4 K 吸収端近傍における非晶体 GeSe の異常散乱因子の測定
-
4a-AD-7 GaAsのEXAFS解析
-
2a-M-8 低温における EXAFS 測定
-
31p GK-6 非晶質GeNi系のEXAFS
-
4a-AD-8 SSDを用いたEXAFS測定 II
-
2a-BF-5 SSDを用いたEXAFSの測定
-
31p GK-3 温度因子と吸収端近傍における積分反射強度
-
4a-AD-6 全反射法によるCu K吸収端近傍における異常散乱因子の測定
-
EXAFS測定による局所構造解析
-
10p-Z-10 異常散乱
-
27a-Q-7 強度比法による異常散乱因子の決定
-
5p-TA-5 温度変化によるペンデル縞
-
5p-TA-4 原子散乱因子の実数部がゼロにおける回折効果
-
1p-TJ-8 偏光によるペンデル縞
-
5a-P-8 GaAsにおけるGa K吸収端近傍での共鳴散乱ペンデルビート
-
5a-P-7 共鳴散乱ペンデルビート法によるGeのf'決定
-
4a-B5-1 X線共鳴散乱による干渉縞:Ge844について
-
1a-N-10 X線共鳴散乱による干渉縞
-
20aTH-10 共鳴動力学回折によるGe K吸収端における異常散乱因子の決定
-
20aTH-9 共鳴多重散乱における消衰効果とボルマン効果
-
10p-J-11 GaAsのK吸収端近傍での異常散乱因子の測定
-
多層X線ミラーにおける反射率の理論的考察
-
SSD・X線回折計
-
31p-A-14 共鳴散乱を伴う動力学回折におけるポインティングベクトル
-
7p-V-9 Feのコンプトン散乱の異方性
-
4a-B5-2 GeK吸収端における異常散乱因子の考察
-
2a-KK-5 吸収端を交差した回折強度の温度依存性(ラウエケース)II
-
11p-T-9 吸収端を交差した回折強度の温度依存性(ラウエケース)
-
12a-L-9 銅とニッケルのX線K吸収端近傍での吸収スペクトルの測定
-
28p-H-1 エネルギー分散型CTスキャナの開発
-
2a-KK-8 X線共鳴散乱によるMnSi結晶構造の研究
-
ダイアモンドアンビルを用いた高圧下のX線回折
-
2p-A-11 GaP結晶の共鳴点近傍におけるX線の異常散乱因子の計算
-
2a-M-9 Ge の2種の構造に対する EXAFS
-
7a-X-3 非対称反射条件下でのBormann効果の理論的考察(Laue case)
-
2p-M-14 X線共鳴散乱によるMnSi結晶構造の研究II
-
30p-E-1 MCSSDによるX線非弾性散乱スペクトルの測定
-
4a-AD-11 薄膜によるX線の全反射:エネルギー分散による考察
-
4a-AD-10 薄膜によるX線の全反射:角度分布による考察
-
マイコンZ80を用いたDOSとそのX線回折計の制御とデ-タ処理への活用--マイコン使用によるCAMの姿
-
実験室におけるマイコンのディスク・オペレ-ティング・システム(コンピュ-タ-・セミナ-)
-
31p-BF-12 X線全反射法によるCuK_α,CuK_βに対するCuの異常散乱因子の測定
-
10a-Z-7 SSDX線回折計を用いた全反射の実験
-
10a-Z-6 角度分散方式によるSSDX線回折計
-
11a-J-2 反跳電子のコンプトン・プロフィル
-
10p-J-10 二つのFrieded対反射を用いた異常散乱因子の測定
-
2p-A-12 コンプトン電子のエネルギー・スペクトルの測定
-
SSDのX線結晶学への応用
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
-
タイトル無し
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク