マイコンZ80を用いたDOSとそのX線回折計の制御とデ-タ処理への活用--マイコン使用によるCAMの姿

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• オーム社の論文
• 1978-08-00

著者

• 深町 共栄

  埼玉工大

関連論文

• 26aYA-11 単原子完全結晶におけるX線純虚数分極率の効果の検出
• 7a-X-6 GaK吸収端近傍におけるGaSb200反射のロッキングカーブ
• 27pXM-8 内殻励起共鳴X線弾性及び非弾性散乱の理論(X線・粒子線(X線))(領域10)
• 31aXD-1 固体からの多体 X 線散乱理論
• 11a-T-2 MCSSDにおける高速データ収録システムの開発
• 27a-L-1 MCSSD用回折計の試作
• 28aRE-2 動力学回折に伴う位相観測(28aRE X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 24pYS-10 X線の閉じ込め効果と濃縮化(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• 13aTJ-1 X 線閉じ込め効果による側面放出ビームの高密度化(X 線・粒子線 : X 線, 領域 10)
• 31p-B-11 透過波のロッキングカーブによる異常散乱因子の決定
• 29a-YM-12 偏光によるペンデルビートII
• 31p-ZB-10 X線共鳴散乱ペンデル縞によるGe K 吸収端における異常分散の研究
• 31p-ZB-9 X線複素分極率の虚数部だけによるX線トポグラフィーのコントラスト
• 26a-S-12 ボルマン吸収をもつラウエケースの動力学回折
• 26a-S-11 吸収のある完全結晶からの回折 : Bragg Case の薄い結晶 II
• 26a-S-5 X線共鳴散乱ペンデル縞法によるGaAsの異常分散 II
• 29p-ZB-8 吸収のある完全結晶からの回折 : Bragg Case の薄い結晶
• 29p-ZB-7 X線共鳴散乱ペンデル縞法によるGaAsのGa K吸収端近傍の異常分散
• 28a-L-7 吸収のある完全結晶からの回折理論の一般化
• 10p-J-13 SSD回折計を用いたGaAsのEXAFS
• 1a-M-4 MCSSD用プロセスメモリーの開発
• 2p-NR-9 32素子MCDDSの性能
• 2p-NR-8 32素子MCSSDの開発
• 2p-NR-11 32素子MCSSDによるWL吸収端のf′f"の測定
• 2p-N-8 多素子SSDシステムとその特性
• 30p-N-8 W化合物の吸収端近傍のf'とf"
• 1p-U-3 SSDを用いたNパターン測定系
• 1p-U-2 一次元SSD(PSSD)の開発(III)
• 29p-P-14 グラフィックディスプレイ付マイコンによるX線計測装置の開発
• 1a-M-3 マイコンを用いたSSD付4軸回折計の開発
• 3p-AD-1 異常散乱による位相決定の試み
• 7p-H-7 異極鉱の極性決定
• 31aXD-8 共鳴散乱動力学回折における異常な干渉縞 II
• 2p-NR-10 32素子MCSSDによる吸収端近傍における異常散乱の測定
• 2p-N-7 MCPDを用いたX線共鳴散乱効果の検出
• 30p-N-9 多素子SSDによる吸収端の温度効果による回折強度変化の検出
• 3a-M-6 X線全反射の考察
• 3a-M-5 一次元 SSD の開発
• 2a-M-7 吸収端近傍における Ni, Yb の異常散乱因子の測定
• 2a-M-6 異常散乱因子の微細構造
• 31p GK-10 全反射法によるGeK吸収端近傍における異常散乱因子の測定
• 31p GK-4 X線全反射における臨界角近傍の蛍光X線強度
• 2a-M-5 異常散乱を用いた GaAs の 200, 222 反射の観察
• 2a-M-4 K 吸収端近傍における非晶体 GeSe の異常散乱因子の測定
• 4a-AD-7 GaAsのEXAFS解析
• 2a-M-8 低温における EXAFS 測定
• 31p GK-6 非晶質GeNi系のEXAFS
• 4a-AD-8 SSDを用いたEXAFS測定 II
• 2a-BF-5 SSDを用いたEXAFSの測定
• 31p GK-3 温度因子と吸収端近傍における積分反射強度
• 4a-AD-6 全反射法によるCu K吸収端近傍における異常散乱因子の測定
• EXAFS測定による局所構造解析
• 10p-Z-10 異常散乱
• 27a-Q-7 強度比法による異常散乱因子の決定
• 5p-TA-5 温度変化によるペンデル縞
• 5p-TA-4 原子散乱因子の実数部がゼロにおける回折効果
• 1p-TJ-8 偏光によるペンデル縞
• 5a-P-8 GaAsにおけるGa K吸収端近傍での共鳴散乱ペンデルビート
• 5a-P-7 共鳴散乱ペンデルビート法によるGeのf'決定
• 4a-B5-1 X線共鳴散乱による干渉縞:Ge844について
• 1a-N-10 X線共鳴散乱による干渉縞
• 20aTH-10 共鳴動力学回折によるGe K吸収端における異常散乱因子の決定
• 20aTH-9 共鳴多重散乱における消衰効果とボルマン効果
• 10p-J-11 GaAsのK吸収端近傍での異常散乱因子の測定
• 多層X線ミラーにおける反射率の理論的考察
• SSD・X線回折計
• 31p-A-14 共鳴散乱を伴う動力学回折におけるポインティングベクトル
• 7p-V-9 Feのコンプトン散乱の異方性
• 4a-B5-2 GeK吸収端における異常散乱因子の考察
• 2a-KK-5 吸収端を交差した回折強度の温度依存性(ラウエケース)II
• 11p-T-9 吸収端を交差した回折強度の温度依存性(ラウエケース)
• 12a-L-9 銅とニッケルのX線K吸収端近傍での吸収スペクトルの測定
• 28p-H-1 エネルギー分散型CTスキャナの開発
• 2a-KK-8 X線共鳴散乱によるMnSi結晶構造の研究
• ダイアモンドアンビルを用いた高圧下のX線回折
• 2p-A-11 GaP結晶の共鳴点近傍におけるX線の異常散乱因子の計算
• 2a-M-9 Ge の2種の構造に対する EXAFS
• 7a-X-3 非対称反射条件下でのBormann効果の理論的考察(Laue case)
• 2p-M-14 X線共鳴散乱によるMnSi結晶構造の研究II
• 30p-E-1 MCSSDによるX線非弾性散乱スペクトルの測定
• 4a-AD-11 薄膜によるX線の全反射:エネルギー分散による考察
• 4a-AD-10 薄膜によるX線の全反射:角度分布による考察
• マイコンZ80を用いたDOSとそのX線回折計の制御とデ-タ処理への活用--マイコン使用によるCAMの姿
• 実験室におけるマイコンのディスク・オペレ-ティング・システム(コンピュ-タ-・セミナ-)
• 31p-BF-12 X線全反射法によるCuK_α,CuK_βに対するCuの異常散乱因子の測定
• 10a-Z-7 SSDX線回折計を用いた全反射の実験
• 10a-Z-6 角度分散方式によるSSDX線回折計
• 11a-J-2 反跳電子のコンプトン・プロフィル
• 10p-J-10 二つのFrieded対反射を用いた異常散乱因子の測定
• 2p-A-12 コンプトン電子のエネルギー・スペクトルの測定
• SSDのX線結晶学への応用
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し
• タイトル無し

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク