5a-NJ-13 低温で中性子照射した試料の長さ変化の測定
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1981-09-14
著者
関連論文
- 7p-X-13 SPring-8・BL02B1における回折装置の性能と評価
- 31p-M-8 FCC金属中の欠陥集合体のX線散漫散乱
- 28p-APS-82 La_Sr_CuO_4単結晶の超伝導転移温度における熱膨張係数の異方性
- 2p-G-12 Nbをイオン注入したα-Al_2O_3の表層構造
- 低温下で重イオン照射したシリコン半導体の電気抵抗率その場測定I
- 30a-N-13 急冷した金中の空孔集合体のX線散漫散乱
- 5a-YG-7 急冷した銅中の空孔集合体のX線散漫散乱III
- 30p-PSB-29 アモルファス合金薄帯のイオン照射による誘導磁気異方性
- 31a-P-7 急冷した銅中の空孔集合体のX線散漫散乱II
- 15a-PS-52 イオン照射したアモルファス合金薄帯の磁気特性の温度変化
- 14a-DK-8 急冷した銅中の空孔集合体のX線散漫散乱
- 31p-PSB-71 イオン照射したアモルファス合金薄帯の磁気特性
- 25p-PSA-6 アモルファス合金の照射誘起高透磁率 II
- 25p-H-3 ダイヤモンド結晶の放射線照射効果のX線的研究
- 30a-PS-48 Fe-B-Si-Cアモルファス合金の高エネルギーイオン照射効果
- 30a-PS-47 アモルファス合金の照射誘起高透磁率
- 30p-ZN-4 人工ダイヤモンド単結晶の重イオン照射効果のX線測定(II)
- 重イオン照射用X線回折クライオスタットの開発(II)
- 28a-E-5 FCC金属中の欠陥集合体のX線散漫散乱
- 重イオン照射用X線回折クライオスタット
- 急冷した金属中の欠陥集合体のX線散漫散乱
- FCC金属中の照射欠陥のX線散漫散乱
- 高温超伝導体における格子歪みの異常
- 13a-S-10 Fe-Niインバー合金のX線散漫散乱 II
- 31p-PSB-64 Fe-Niインバー合金のX線散漫散乱
- 26p-N-11 Pd-Fe合金のX線温度散漫散乱
- 2p-YG-7 低温下でLiイオン照射したβ-LiAlの抵抗率その場測定(I)
- 30a-K-8 急冷した銅単結晶のX線散漫散乱の測定
- 28P-E-2 Pd中の水素の拡散 : 水素濃度依存
- イットリウム中の水素のオーダリング
- 31a-M-11 Tm中の水素の拡散
- 31a-M-5 X線散漫散乱によるダイヤモンド中欠陥の構造
- 30p-L-7 EuBa_2Cu_3O_y薄膜における粒子線照射効果
- 15p-E-1 酸化物超伝導薄膜の結晶構造のイオン照射効果
- 5a-NJ-13 低温で中性子照射した試料の長さ変化の測定
- 温度可変用ガラス製クライオスタット
- 放電加工による電気抵抗測定用試料の製作法(実験ノ-ト)
- 26a-T-5 人工ダイヤモンド単結晶の重イオン照射効果のX線測定
- 5a-Q-11 窒化ホウ素中の陽電子消滅
- 2a-M-4 高エネルギーイオン照射したLiFのX線測定
- 4a-TB-10 不純物をドープしたSiの負の膨張係数(格子定数による測定)
- 31a-YK-3 金微粒子の照射損傷
- 3p-KE-2 X線回折用ガラス製クライオスタットの試作
- 24a-L-11 中性子照射したMoの格子常数
- 5p-P-1 層間化合物Ag_XTiS_2からのX線散漫散乱II
- 29p-N-5 イットリウム中の水素の拡散
- 31a-YC-5 Lu中の水素の拡散
- 5a-YG-2 PdおよびPd合金中の水素の拡散
- 14a-DK-1 50K近傍でのPd基合金中の水素の拡散
- 30a-N-1 イオン照射した高温超伝導体のc軸長変化と電子励起効果
- 3p-PS-74 3d遷移金属の磁気異方性と格子間原子
- 31a-G-10 低温で中性子照射したAl-Ge合金の回復
- 8a-A-2 中性子照射したLiF II ESR
- 8a-A-1 中性子照射したLiF I X線的研究
- 3p-P-7 Mo、V中の照射欠陥の回復
- 3a-CE-2 亜鉛単結晶の照射欠陥の回復
- 4a-KM-7 磁性研究の立場から見たbccFe中の格子欠陥
- 2a-KL-1 低温で中性子照射したNi,Feの格子間原子の回復
- 12p-PS-42 インバー合金のX線散漫散乱と格子定数
- 11p-Y-10 六方晶Coの格子定数の精密測定
- 13a-L-9 低温で中性子照射した鉄の磁気異方性
- 27a-P-5 X線精密測定によるFeベースインバー合金の格子定数
- 1a-T-2 金属中の溶質原子および照射欠陥のintrinsic thermal expansionの測定
- 2p-D-2 X線精密測定によるFe-Ptインバー合金の格子定数
- 6p-M-8 中性子照射した黒鉛のラマンスペクトル
- 2p-PS-29 Fe-Ni合金中の格子欠陥と磁気異方性
- 6a-Q-8 高速中性子照射したLiFの格子定数
- 6a-M-4 中性子照射した亜鉛の格子定数
- 3a-M-13 極低温で中性子照射した黒鉛の格子常数
- 6a-P-11 BCC金属の低温照射と回復
- 6a-P-10 F.C.C金属の低温照射と回復
- 5a-A3-4 遷移金属中の点欠陥形成のエネルギーしきい値
- タイトル無し
- タイトル無し
- 3a-M2-3 イオン照射した銅のX線散漫散乱(格子欠陥)
- 30p-T-2 Heイオン照射した銅のX線散漫散乱(30pT 格子欠陥)
- 31p-D1-8 希土類純金属中の格子間原子と磁性(31p D1 磁性(電子状態))
- 1a-FA-1 高エネルギーイオン照射した半導体結晶の負の膨張係数(1a FA 格子欠陥)
- 1a-FA-5 高エネルギーイオン照射による損傷機構のX線測定(1a FA 格子欠陥)
- 31p-D1-7 bcc Fe中の格子間原子の磁性II(31p D1 磁性(電子状態))
- 3a-A3-6 不純物をドープしたIV族及びIII-V族半導体の格子定数測定による低温での負の膨張係数(3a A3 格子欠陥,格子欠陥)
- 30p-CM-1 Pd-H合金の50K異常(金属)