3a-A3-6 不純物をドープしたIV族及びIII-V族半導体の格子定数測定による低温での負の膨張係数(3a A3 格子欠陥,格子欠陥)
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概要
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- 一般社団法人日本物理学会の論文
- 1985-03-31
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