3p-X-3 コヒーレント収束電子回折法による積層欠陥の観察

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概要

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• 1994-08-16

著者

• 田中 通義

  東北大 科研

• 津田 健治

  東北大 科研

• 寺内 正巳

  東北大 科研

• 金山 俊克

  日本電子株式会社

• 本田 敏和

  日本電子

• 本田 敏和

  日本電子株式会社

• 金山 俊克

  日本電子(株)

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