Charge Transfer of Ar^<2+> and Kr^<2+> in Their Own Gases Studied by the Beam Guide Technique
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
By an octopole Jon-beam guide (OPIG) technique combined with a tandem massspectrometer technique, one- and two-electron capture cross sections of Ar" andKr" in their own gases have been measured in the wide collision energy range from 0. lto 1000 eV (in center-of-mass systems). By changing electron impact energy to pro-duce incident ions, contributions to cross sections from various ionic states in beamsare examined. Two-electrton capture cross sections are almost independent of ionicstates, but one-electron capture cross sections depend strongly on ionic states. One-electron capture cross sections by 'P state are determined at collision energies of 1.0,10 and 100 eV. In this paper, it is also shown that this OPIG experiment is very usefulfor low energy collision experiments and spans well the energy gap in previous ex-periments.
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1986-05-15
著者
-
奥野 和彦
都立大理
-
奥野 和彦
東京都立大学理学部
-
OKUNO Kazuhiko
Department of Physics,Tokyo Metropolitan University
-
Okuno Kazuhiko
Department Of Physics Faculty Of Science Tokyo Metropolitan University
関連論文
- 29a-L-12 高速Li^ビームプローブ分光法によるプラズマ診断 II
- 3p-KP-9 MCPゲイン特性の荷数(26>q>3)依存性
- 3p-KP-8 ヨウ素多価イオンの電荷移行反応
- 11p-J-5 Landau-Zenerモデルによる多価イオンの電荷移行反応
- 11p-J-4 Kr^+He(q=10〜25)における電荷移行反応
- 2p-P-6-1 名大プラズマ研におけるNICE実験
- 多価イオン照射による固体表面の原子脱離
- 28p-Y-7 多価イオン励起表面反応
- 4p-ZG-3 rfトラップのイオン閉じ込め特性
- 28a-ZK-4 Xe N_5O_O_^1S_0オージェ電子のPCI効果
- 21aTE-8 低速多価イオン-二原子分子衝突における解離ダイナミクスと電子状態の選別
- 31aXE-12 低速多価イオン衝突における二原子分子の崩壊過程 : 状態の選別と解離ダイナミクス
- 17aTA-4 低速多価イオン・二原子分子衝突における解離過程の散乱角依存性
- 30aZF-7 低速多価イオン・分子衝突における多重コインシデンス測定装置の開発
- 22aYJ-1 低速Kr^衝突におけるN_2分子の崩壊過程とコリジョンダイナミクス
- 22aC-3 低エネルギーKr^イオン衝突における二原子分子の崩壊過程
- 29a-ZC-3 低エネルギー^3H^イオン衝突における二原子分子の崩壊過程3
- 27a-L-12 低エネルギーα粒子衝突における二原子分子の崩壊過程II
- 27p-YA-6 Xe内殻電離における円二色性
- 金属原子の全イオン化断面積の絶対測定 : 原子分子
- 電子ビームイオン源用水平設置超伝導コイルおよびクライオスタットの製作
- 2a-S-10 Ne^,Ar^(g=4)の対称共鳴多重電荷移行
- 4p-W-6 Ar^- Na衝突における励起を伴う電荷移行反応の断面積測定
- 2a-LF-2 A^+Na(q=2,3)の衝突における分光観測
- 8a-YP-3 多価イオン・分子衝突におけるクーロン解離イオン計測 II
- 多価イオン・分子衝突におけるクーロン解離イオン計測
- Translational-Energy Spectroscopy of One-Electron Capture Processes in He^-H_2 and -N_2 Collisions
- Landau-Zener Model Calculations of One-Electron Capture from He Atoms by Highly Stripped Ions at Low Energies
- Measurement of Relative Population between B^(2s) and B^(2p) in Electron Capture Collision of B^ with He
- 5a-A-5 Ar^-Ar, Ar^-N_2系での電子捕獲過程反応
- Surface Reaction Induced by Multiply-Charged Ions
- 小型多価イオン源 (Mini-EBIS) の開発
- High Resolution Translational Energy Spectroscopy of One-Electron Capture in Ne^-N_2 Collisions
- Charge Transfer of Ar^ and Kr^ in Their Own Gases Studied by the Beam Guide Technique
- Drift Tube Study of One-Electron Capture Reactions between Double-Charged Ions and Rare Gas Atoms
- Drift Tube Study of Symmetric Resonance Single- and Double-Charge Transfer in Kr^++Kr,Xe^++Xe,Kr^+Kr,and Xe^+Xe Systems
- Single-Electron Capture into Ar^+ Excited States in Ar^ +Na Collision below 12 keV : II. Relative Population Distribution in Ar^+ Excited States
- Single-Electron Capture into Ar^+ Excited States in Ar^ +Na Collision below 12 keV : I. Absolute Measurement of Emission Cross-Sections
- 2a-LF-1 ECRプラズマを利用した多価イオン源
- 高電子温度プラズマからのイオンの引き出しと質量分析 : 多価イオン源としての高電子温度プラズマの利用に関する予備実験
- ビームガイド法による低エネルギーイオン衝突実験 : ―Ar3+-Ar,Kr3+-Kr衝突における電荷移行反応断面積―
- Measurement of Charge-Exchange Probability in He^++He Collision
- Absolute Measurement of Total Ionization Cross Section of Mg by Electron Impact
- Single-Electron Capture into Ar^+ Excited States in Ar^2 + Na Collision below 12 keV. : II. Relative Population Distribution in Ar^+ Excited States.
- 2a-N-6 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応IV : ^3He^+He,H_2衝突における電子捕獲断面積
- サマリー・アブストラクト
- Production of Fast Neutral Lithium Beam for High Temperature Plasma Probing
- 22aYJ-2 低ネルギー多価イオンの電荷移行反応XXII. : N^(q=2-6)+He,H_2衝突系における一電子および二電子捕獲断面積
- 第16回電子・原子衝突物理学に関する国際会議
- 22pC-12 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応XXI. : C^(q=2-5)+He,H_2衝突系における一電子および二電子捕獲断面積
- 28a-ZC-6 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応XX : Kr^イオン・二原子分子衝突系における電子捕獲反応断面積(q=4.9)
- Single-Electron Capture into Ar^+ Excited States in Ar^2 + Na Collision below 12 keV. : I. Absolute Measurement of Emission Cross-Section.
- 3a-KR-5 He^++He散乱における電荷移動確率の測定
- 17aTA-2 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応 XXV : C^,N^,O^+He,H_2衝突系における一電子及び二電子捕獲反応断面積
- 30aZF-3 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応XXIV. : C^ + He, H_2衝突系における一電子及び二電子捕獲反応断面積
- 22aYJ-3 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応XXIII. : O^(q=2-6)+He,H_2衝突系における一電子および二電子捕獲断面積
- 8a-YP-1 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応XIX : Kr^イオンと二原子分子の衝突系における電子捕獲反応断面積
- 31a-YK-12 31aYK-12 低エネルギー多価イオンの電子移行反応XVIII : Kr^- Ne(q=7-9)
- 31a-YK-11 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応XVII : He^ -N_2、O_2、CO衝突における電子捕獲反応断面積
- 低エルネギー多価イオンの電荷移行反応XVI. Ar^-Ne(q=4, 5)
- Charge State Distributions of Ions Extracted from A Compact Electron Beam Ion Source
- Development of a Compact Electron Beam Ion Source Cooled with Liquid Nitrogen
- 29p-ED-9 Ne^-Xe衝突における1電子移行過程(原子・分子)
- 29p-ED-10 Ne^-N2衝突における1電子捕獲過程(原子・分子)
- 9aWF-3 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応XXVII 2価分子イオン衝突(原子・分子,領域1)
- 25aXL-5 低速多価イオン・二原子分子衝突における解離過程の散乱角依存性II(25aXL 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理分野))
- 31p-T-13 低エネルギー多価イオンの電荷移行反応XV. Ar^-Ne (q=6,7,8)(31pT 原子・分子,原子・分子)
- 9aWF-2 低速多価イオン衝突における二原子分子の崩壊過程 : 状態の選別と散乱角依存性(原子・分子,領域1)
- 2p-A10-5 診断用高速中世粒子ビーム源の開発(2p A10 プラズマ物理・核融合(原子過程・プラズマ診断))