Resonant Soft X-Ray Emission Spectroscopy of NiO across the Ni L_<2,3> Thresholds : Condensed Matter: Electronic Properties, etc.

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概要

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• We study the electronic structure of NiO using resonant soft X-ray emission spectroscopy across the Ni L_<2,3> thresholds. We observe inelastic (Raman) features within 10eV of the elastic peak energy. At the L_3 resonance, the features within 4 eV are enhanced and can be directly assigned to the d-d multiplets of NiO, in correspondence to features observed in optical absorption spectra. Resonance enhancements of the triplet and singlet states resolved in energy confirm a spin-flip transition. Charge-transfer (CT) excitations are also clearly identified by resonance enhancement at photon energies corresponding to the satellites observed in the Ni L_<2,3> X-ray absorption spectra.

• 社団法人日本物理学会の論文
• 2001-06-15

著者

• 渡辺 雅之

  京大院人間・環境

• 原田 慈久

  東大院工:東大放射光機構:理研:spring-8

• SHIN Shik

  Institute for Solid State Physics, University of Tokyo

• WATANABE Masamitsu

  Institute for Solid State Physics, University of Tokyo

• Watanabe M

  Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials Tohoku University

• HARADA Yoshihisa

  Institute for Solid State Physics The University of Tokyo

• Harada Yoshihisa

  Institute For Mechanical Systems Engineering National Institute Of Advanced Industrial Science And T

• Shin Shik

  Institute For Solid State Physics (issp) University Of Tokyo

• Ishii Hirofumi

  Institute For Solid State Physics University Of Tokyo

• Eguchi Ritsuko

  Institute For Solid State Physics University Of Tokyo

• Ishiwata Y

  Institute For Solid State Physics University Of Tokyo

• ISHIWATA Yoichi

  Institute for Solid State Physics, University of Tokyo

• CHAINANI Ashish

  Institute for Solid State Physics, University of Tokyo

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