24pS-8 パルスアーク放電による炭素プラズマからの微粒子生成基礎過程
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 2000-03-10
著者
-
日比野 倫夫
名大理工総研
-
日比野 倫夫
名古屋大学理工科学総合研究センター
-
前出 優次
名大・工
-
前出 優次
名大工
-
室岡 義栄
名大工
-
日比野 倫夫
名大理総
-
室岡 義栄
名古屋大学 理工科学総合研究センター
関連論文
- AlGaN中間層を用いて作製したSi上選択成長GaNのTEM観察 : エピタキシャル成長II
- AlGaN中間層を用いてSi上に選択成長したGaNピラミッドのTEM観察
- パーマロイ蒸着薄膜中の斑点および磁区模様の電子顕微鏡観察 : 応用磁性
- 電子顕微鏡によるパーマロイ蒸着局所異方性の観察 : 応用磁性
- 超高圧電子顕微鏡における振動の影響
- 高精度位相シフト電子線ホログラフィ
- 28aXC-8 磁性金属多層膜(Co/Cu)の電子線ホログラフィによる断面観察
- 28aXC-4 透過電子顕微鏡による電荷整列La_Sr_MnO_4への微小領域EELS
- 22aSF-7 透過型電子顕微鏡による電荷整列La_Sr_MnO_4への微小領域EELS
- 22aYH-5 ビデオレート記録システムをもちいた時間分解EELSによるCaF_2照射損傷過程
- 24pYF-14 グラファイト陰極上への短時間パルスアーク放電による初期生成物
- 磁性金属多層膜(Co/Cu)の電子線ホログラフィ
- 高精度位相シフト電子線ホログラフィのシミュレーション
- 電子線バイプリズムによるフレネル回折の影響とその補正
- 小電流パルスアークによるフラーレン生成高温システム
- 小電流パルスアークによるグラファイトアブレーション
- 24pS-8 パルスアーク放電による炭素プラズマからの微粒子生成基礎過程
- 22aZF-12 La_Sr_MnO_3の角度分解EELSスペクトル
- 27pYA-7 電子線バイプリズムによるフレネル回折の影響とその補正
- 27pYA-6 交流電圧印可による電子線微分干渉法の検討
- パルスアーク放電を用いたフラーレン生成システムの製作
- 電子線ホログラフィによる微分顕微鏡法
- ローレンツ電子顕微鏡法によるFe微粒子の観察
- 位相シフト電子綿ホログラフィによる高精度位相計測法の開発と応用
- 最大エントロピー法を用いた弱位相物体のTEM像のデコンボリューション
- CaF_2における電子照射誘起過程の時間分解EELS
- ペロブスカイト型Mn酸化物の運動量分解EELS
- 28p-J-1 ローレンツ電子顕微鏡法によるFe微粒子の観察II
- 28p-XJ-2 磁性超微粒子のローレンツ電子顕微鏡像
- 28p-XJ-1 電子線ホログラフィによる微分顕微鏡法III
- 25p-K-15 位相シフト電子線ホログラフィの高精度化
- 30p-YC-8 電子線ホログラフィーによる微分顕微鏡法II
- 5p-X-4 電子線ホログラフィによる微分顕微鏡法
- 28p-A-2 高分解能電子線ホログラフィにおける収差補正
- CoFeBサンドイッチ膜のローレンツ電子顕微鏡観察
- ZrSiO_4の高分解能電子線ホログラフィ
- パーマロイ薄膜磁化異方性の電顕による測定 : 表面物理・薄膜
- 留学をキャリアに生かす 先輩たちのチャレンジ体験 座談会
- 北イリノイ大学/アルゴンヌ国立研究所滞在記
- キャベンディッシュ研究所滞在記
- ケンブリッジ大学キャベンディッシュ研究所での大学院留学
- 電子エネルギー損失分光法を用いた局在電子構造の異方性の研究