3C14 時間分解赤外分光法を用いた、液晶内不純物の評価
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概要
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Time-resolved Infrared Spectroscopy is proposed to be a new evaluation method for LC-orienting forces and deformation of the electric field by voltage-responsive impurities in LC, We constructed a LCD evaluation system based on the infrared narrow band filters by the simplification of a dispersive-type time-resolved infrared spectrometer developed at KAST. Using this system, LCD panels of glass plates can be evaluated because of the high throughput of the monitoring infrared light. Sample cells were prepared to contain a certain impurity (Ethanol or acetic acid) whose concentration was carefully controlled. Based on the obtained results for these sample cells, the specification and characterization of our method were presented.
- 日本液晶学会の論文
- 1996-09-30
著者
-
浜口 宏夫
東大院総合:神奈川科学技術アカデミー
-
佐野 健二
東芝研究開発センター 環境技術ラボラトリー
-
浦野 妙子
東芝研究開発センター
-
町田 茂
東芝研究開発センター
-
浦野 妙子
(株)東芝 研究開発センター
-
佐野 健二
(株)東芝 研究開発センター
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