3C11 キャパシタの誘電吸収測定方法を用いた液晶セルの残留DC電圧の測定
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概要
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It has been known that the electrical charge created within interface between liquid crystal and alignment layer by applying DC voltage to liquid crystal cells causes image sticking. This led us to assumption that we could quantitatively evaluate capacitor's dielectric absorption. We apply DC voltage to capacitor and measure the residual DC voltage after the capacitor is short-circuited. Results of the actual measurement and the simulation calculation showed that the residual voltage varied depending on thickness of the alignment layer.
- 日本液晶学会の論文
- 1996-09-30
著者
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