中野渡 旬 | メルク・ジャパン株式会社
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概要
関連著者
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中野渡 旬
メルク・ジャパン株式会社
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中野渡 旬
メルク・ジャパン(株)液晶事業部
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井上 勝
(株)東陽テクニカ
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真鍋 典子
東陽テクニカ
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中野渡 旬
メルクジャパン
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井上 勝
東陽テクニカ
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中園 祐司
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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沢田 温
メルク・ジャパン株式会社 厚木テクニカルセンター
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沢田 温
メルク・ジャパン株式会社厚木テクニカルセンター
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小野 勝道
茨城大工
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中野渡 旬
アルプス電気中研
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小野 勝道
茨城大学工学部物質工学科
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井上 勝
(株)東陽テクニカFPD計測システムプロジェクト
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木村 宗弘
長岡技科大・工
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赤羽 正志
長岡技科大・工
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井上 勝
株式会社東陽テクニカ
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真鍋 典子
株式会社東陽テクニカ
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山口 剛史
東陽テクニカ
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金子 英樹
長岡技科大工
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木村 宗弘
長岡技科大工
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井上 勝
(株)東陽テクニカ・エレクトロニクス事業部
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北口 貴司
茨城大工
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小野 勝道
茨城大、工学部
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赤羽 正志
長岡技科大
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木村 宗弘
長岡技科大
著作論文
- 2PA03 誘電吸収法による残留DC電圧測定(フリッカー消去法との相関)
- 3C11 キャパシタの誘電吸収測定方法を用いた液晶セルの残留DC電圧の測定
- 2A05 TNセルの方位角方向アンカリングエネルギーの評価
- 3B19 液晶セル中の可動性イオンの周波数依存性とTFT-LCDの電圧保持率との関係
- 1B13 ネマチック液晶に対するTCNQ添加効果とイオン移動
- 3G503 STN-LCDの表示焼き付き現象と液晶材料物性との関係
- 3G502 STN液晶材料の導電率異方性
- 3D02 液晶中の空間電荷と低周波領域における誘電特性
- 3A14 強誘電性液晶中の空間電荷とスイッチング特性
- 2B119 強誘電性液晶のらせん構造を利用した光散乱効果
- コレステリック液晶を応用した偏光分離方式高透過率偏光板