真鍋 典子 | 東陽テクニカ
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概要
関連著者
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真鍋 典子
東陽テクニカ
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井上 勝
(株)東陽テクニカ
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井上 勝
東陽テクニカ
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赤羽 正志
長岡技科大・工
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赤羽 正志
長岡技科大
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木村 宗弘
長岡技科大・工
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中野渡 旬
メルク・ジャパン株式会社
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木村 宗弘
長岡技科大工
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木村 宗弘
長岡技科大
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中野渡 旬
メルクジャパン
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越智 和宏
大阪府大院・工
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轟原 正義
大阪府大院・工
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内藤 裕義
大阪府大院・工
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中力 徹
長岡技科大・工
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真鍋 典子
東陽テク二カ
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井上 勝
東陽テク二カ
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佐々木 等
アルプス電気
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菅原 清三
アルプス電気
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井上 勝
株式会社東陽テクニカ
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真鍋 典子
株式会社東陽テクニカ
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山口 剛史
東陽テクニカ
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金子 英樹
長岡技科大工
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中野渡 旬
メルク・ジャパン(株)液晶事業部
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中力 徹
長岡技術大工
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Naito H
Univ. Osaka Prefecture Osaka
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Naito H
College Of Engineering Osaka Prefecture University
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轟原 正義
大阪府大院工
著作論文
- PAa17 液晶セル過渡電流からの不純物イオンドリフト移動度の評価
- 2A06 偏光解析法を用いたTNセルのねじれ角/セル厚同時測定によるアンカリングエネルギーの決定法
- PCa03 方位角アンカリングエネルギーがTNセルの光学特性に及ぼす影響(2)
- 2C10 方位角アンカリングエネルギーがTNセルの光学特性に及ぼす影響
- 2PA03 誘電吸収法による残留DC電圧測定(フリッカー消去法との相関)
- 3C11 キャパシタの誘電吸収測定方法を用いた液晶セルの残留DC電圧の測定
- 2A05 TNセルの方位角方向アンカリングエネルギーの評価