3D10 VR配向膜による液晶物性定数の精密測定
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概要
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We developed a new method for measuring LC property constants. The method uses a type of VR oriented film where the LC direction is perpendicular to the rubbing direction, uses the tilt of the electrical field to control the tilting direction of LC, and uses CV characteristics to determine LC property constants. Threshold voltage, elastic and dielectric constants can now be found and accurately measured from CV characteristic measurements by linear approximation in the high-voltage range through this method.
- 日本液晶学会の論文
- 1998-10-12
著者
-
内田 龍男
東北大学大学院工学研究科
-
宮下 哲哉
東北大学 大学院工学研究科
-
内田 龍男
東北大学 工学部 電子工学科
-
米田 清
三洋電機(株)セミコンダクターカンパニー 有機el事業化プロジェクト
-
喜多 真一
凸版印刷(株)エレクトロニクス研究所
-
小間 徳夫
東北大学大学院工学研究科電子工学専攻
-
米田 清
三洋電機(株)
-
小間 徳夫
三洋電機(株)
-
内田 龍男
東北大学 大学院 工学研究科 電子工学専攻
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