154. 極低温放射計を用いた光度標準の設定((9)測光・測色・放射測定)
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
第26回CIE北京大会報告(照明国際会議)
-
シンクロトロン放射を用いたアミノ酸の化学進化研究の到達点
-
円偏光紫外線照射によるアミノ酸固体の不斉分解の検出
-
無触媒下での紫外線照射によるL-アラニンの光重合反応
-
24aZC-4 円偏光アンジュレーターからの紫外線照射によるアラニンの重合反応
-
24pP-16 固相アミノ酸の紫外光化学反応
-
5.1 測光・放射測定(第5章 光・放射の計測)
-
5.1測光,放射測定(第5章光・放射の計測)
-
光・放射の計測
-
5.1 測光,放射測定(第5章 光・放射の計測)
-
光・放射の計測
-
5.1 測光, 放射測定 (第5章 光・放射の計測)
-
5.1 測光, 放射測定(第5章 光・放射の計測)
-
第5章 光・放射の計測 (照明年報)
-
5.1 測光,放射測定
-
光・放射の計測--側光,放射測定/測色/受光器・放射測定器
-
昭和 60 年度プラズマ研究所共同研究会「真空紫外・軟 X 線領域での測光機器較正法の研究」プログラム
-
円偏光真空紫外線および非偏光紫外線によるアミノ酸の化学進化に関する研究
-
7p-YL-14 紫外線によるアミノ酸の光分解量子効率と化学進化
-
波長633nmにおける絶対分光応答度標準の確立
-
放電ランプの全光束,色度と分光測光の実際-2-測定結果(資料)
-
小光度標準電球(資料)
-
放電ランプの全光束,色度の分光測光の実際-1-測光方法(資料)
-
測光へのパ-ソナルコンピュ-タの利用(資料) (測光・測色へのコンピュ-タ利用)
-
分布温度2865Kにおけるハロゲン電球の動程特性調査
-
145. 変形シャープ・リトル法による高精度絶対反射率測定((9)測光・測色・放射測定)
-
ゾルゲル薄膜における新規な改質方法 : 電子励起によるシリカゲル薄膜の緻密化
-
測光標準 (特集:計量標準)
-
光・放射の計測 (照明年報)
-
円偏向放射光の発生とその応用研究 (特集 放射光利用における計測と物理)
-
14a-DE-19 真空紫外光領域におけるビスマス鉄ガーネットの光スペクトル
-
第5章 光・放射の計測(照明年報)
-
第5章 光・放射の計測
-
第5章 光・放射の計測
-
第5章 光・放射の計測
-
第5章 光・放射の計測
-
第5章 光・放射の計測
-
154.分光拡散反射率標準の低反射率への拡張((10)測光・測色・放射測定)
-
150.発光ダイオードの光度・全光束測定に関する研究 : 高精度LED測光標準開発に向けて((10)測光・測色・放射測定)
-
149.新しい分布温度標準の構築((10)測光・測色・放射測定)
-
光・放射の計測 (照明年報)
-
130.トラップ型光検出器の設計と評価 : 高精度分光応答度依頼試験開始に向けて((10)測光・測色・放射測定)
-
129.短波長可視放射による標準白色板からの微弱蛍光発生((10)測光・測色・放射測定)
-
第5章 光・放射の計測
-
配光測定に基づく全光束絶対校正装置の開発--全光束標準の現状と高精度化に向けた取り組み
-
133. 高精度全光束絶対校正装置の開発
-
第5章光・放射の計測
-
2p-P-13 直交遅延磁場型偏光アンジュレータの特性
-
2p-P-12 新版直交遅延磁場型偏光アンジュレータの製作
-
31a-YQ-7 YIGにおけるY^4p内殻遷移の磁気円二色性
-
30a-P-11 偏光アンジュレータを用いた偏光変調法による磁気円二色性のVUV領域における測定
-
30a-P-10 円偏光アンジュレータを用いたYIGのMCDスペクトル
-
13a-PS-5 エピタクシァル成長したKI薄膜の光電子スペクトル
-
145.極低温放射計を用いた絶対分光応答度校正の高精度化((10)測光・測色・放射測定)
-
重水素ランプの経時変化
-
SRを利用した放射標準,検出器標準 (シリーズ特集 電総研2000年--研究の現状と今後の展開の方向(3)計測標準技術分野)
-
第5章 光・放射の計測
-
第5章 光・放射の計測
-
第5章 光・放射の計測 (照明年報)
-
光放射標準と計測技術の研究:測光・放射標準 (シリーズ特集 電総研2000年--研究の現状と今後の展開の方向(3)計測標準技術分野)
-
5.1 測光, 放射測定
-
154. 極低温放射計を用いた光度標準の設定((9)測光・測色・放射測定)
-
第5章 光・放射の計測 5.1 測光,放射測定
-
163. 極低温放射計による絶対分光応答度の測定 (1)
-
146.変形シャープ・リトル法による高精度絶対反射率測定(3) : 分光反射率標準の確立と校正システムの構築((10)測光・測色・放射測定)
-
152. 変形シャープ・リトル法による高精度絶対反射率測定(2) : 誤差要因と不確かさの評価((9)測光・測色・放射測定)
-
第5章 光・放射の計測
-
174.極低温放射計の測定精度評価((9)測光・測色・放射測定)
-
真空紫外検出器校正用ビ-ムライン (標準-1-)
-
光標準の考え方測り方--IC,LCD等の微細加工技術を支える (産業のマザ-ツ-ル マザ-テクノロジ-「計測」の世界が変わる!) -- (計測標準とハイテク技術)
-
電総研における SR Radiometry の研究
-
シリカガラスの真空紫外光照射下における光透過率のその場測定
-
電子蓄積リングNIJI-2号の偏光アンジュレータおよびその光学系の偏光特性 (特集 電子加速器・蓄積リングの新たな利用研究と展開)
-
計量標準と工業規格雑感
-
短波長紫外線の測定法に関する研究調査委員会
-
第5章 光・放射の計測
-
第5章 光・放射の計測
-
第5章 光・放射の計測
-
第5章 光・放射の計測
-
編集雑感
-
測光標準
-
アブストラクト
-
第4講真空紫外分光技術 : 分光技術
-
真空紫外検出器校正用ビームラインの設計とその特性
-
電子蛇行型シンクロトロン放射光源 : ウィグラー及びアンジュレータ
-
直交遅延磁場型偏光アンジュレータの放射特性
-
5a-P-8 直交磁場型円偏光アンジュレーター
-
3a-TC-13 光電子分光によるNaClの価電子帯構造
-
2a-KB-4 NaCl単結晶薄膜の光電子スペクトル
-
円偏光放射光の発生とその応用研究
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク