145. 変形シャープ・リトル法による高精度絶対反射率測定((9)測光・測色・放射測定)
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概要
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- 社団法人照明学会の論文
- 2000-08-24
著者
-
蔀 洋司
産業技術総合研究所
-
側垣 博明
電子技術総合研究所 大阪ライフエレクトロニクス研究センター
-
側垣 博明
電子技術総合研究所
-
齋藤 一朗
(社)日本照明委員会
-
齊藤 一朗
(独)産業技術総合研究所
-
齋藤 一朗
電子技術総合研究所
-
小貫 英雄
電子技術総合研究所
-
齋藤 一朗
(独)産業技術総合研究所
-
斉藤 一朗
電子技術総合研究所
-
蔀 洋司
電子技術総合研究所
-
三嶋 泰雄
電子技術総合研究所
-
小貫 英雄
産業技術総合研究所 計量標準総合センター
-
三嶋 泰雄
産業技術総合研究所 計量標準総合センター
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