逐次検定による逐次抜取検査と累積和管理図
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概要
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While 3-sigma control chart in quality-control procedure takes into account only type-I error, sequential sampling plan and cumulative-sum chart are derived from the sequential analysis, developed by Wald's criteria using likelihood-ratio and both the type-I error and the type-II error. The viewpoint of hypothesis-test procedure in rejecting defective lots is introduced into the investigation of the sequential sampling inspection and the CUSUM chart. V-mask is useful to detect the change of manufacturing process with smaller samples than the samples employed in the 3-sigma control chart.
- 室蘭工業大学の論文
- 2000-11-30
著者
-
小幡 英二
室蘭工業大学大学院工学研究科応用理化学系専攻
-
向井田 健一
室蘭工業大学
-
渡辺 治夫
室蘭工業大学名誉教授
-
小幡 英二
室蘭工業大学大学院 工学研究科 応用理化学系専攻
-
向井田 健一
室蘭工大工
-
向井田 健一
室蘭工業大学 工学部材料物性工学科
-
向井田 健一
室蘭工業大学工学部材料物性工学科
-
渡辺 治夫
室蘭工業大学化学工学科
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