微細MOSFETにおけるランダム・テレグラフ・ノイズの影響

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概要

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• 2008-01-10

著者

• 三木 浩史

  (株)日立製作所中央研究所ULSI研究所

• 手賀 直樹

  (株)日立製作所 中央研究所

• 三木 浩史

  (株)日立製作所 中央研究所

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