放射光を用いた coated conductor 中の超伝導膜の内部ひずみ直接測定
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概要
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- 2007-11-20
著者
-
菅野 未知央
京大
-
長村 光造
(財)応用科学研究所
-
町屋 修太郎
大同大学・工学部機械工学科
-
町屋 修太郎
原子力機構
-
足立 大樹
京大
-
長村 光造
応研
-
長村 光造
財団法人 応用科学研究所
-
長村 光造
京都大学大学院工学研究科
-
菅野 未知央
京都大学 大学院工学研究科 電子工学専攻
-
菅野 未知央
京都大学工学研究科
-
長村 光造
応科研
-
PRUSSEIT Werner
THEVA社
-
佐藤 正直
Spring-8
-
足立 大樹
京都大学工学研究科材料工学専攻
-
Prusseit Werner
Theva Gmbh
-
Prusseit Werner
Theva
-
Prusseit W.
Theva
-
長村 光造
京大
-
Adachi H
Department Of Materials Science And Engineering Kyoto University
-
Adachi H
Tohoku Univ. Sendai Jpn
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