X線小角散乱及び逆格子マッピングを用いたREBa_2Cu_3O_<7-δ>薄膜中の金ナノロッドの評価
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概要
- 論文の詳細を見る
- 2006-11-15
著者
-
吉田 隆
名大工
-
一瀬 中
電中研
-
向田 昌志
九大工
-
堀井 滋
東大工
-
堀井 滋
高知工大環理工
-
松本 要
九州工業大学大学院工学研究院物質工学研究系
-
長村 光造
(財)応用科学研究所
-
長村 光造
応用科学研究所
-
長村 光造
財団法人 応用科学研究所
-
長村 光造
応用科学研
-
堀出 朋哉
京大工
-
松本 要
京大工
-
松本 要
京大工学研究科
-
長村 光造
京大
-
堀出 朋哉
京大
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